Имеется некоторое экспериментальное доказательство этого. Например, в приложении XIV приведен микрографик трещины, полученной на отражательном электронном микроскопе и образованной иглой радиуса приблизительно 40 мк. При этом наблюдается значительное повреждение вдоль линии XX, но особый интерес представляют, очевидно, гладкие дорожки, такие как УУ. Они могут быть образованы мельчайшими неровностями на конце иголки.

Эти узкие дорожки и являются, вероятно, повреждениями поверхности, образованными в полируемых алмазных поверхностях, мелкими полирующими частицами.

Когда полированные алмазные поверхности исследуют с помощью отражательного или просвечивающего электронного микроскопа, используя соответствующие реплики, то сразу обнаруживаются две особенности: первая — дорожки, образованные абразивом, вторая — ряд приблизительно параллельно идущих линий в другом направлении. Тщательные исследования (Сеал и Ментер, 1963 г.; Сеал, 1954 г.) (Seal; Menter) показали, что эти линии соответствуют уступам приблизительно в 20 и 200 А, по высоте которые всегда параллельны плоскостям Найдено, что если полирование проводилось в различных направлениях, то эти образованные уступы не лежат в плоскостях {111}, для которых наибольшими являются растягивающие напряжения, а скорее лежат в плоскостях (111}, где имеют место наибольшие сдвигающие напряжения.

Так как плоскости {111} являются плоскостями, вдоль которых, вероятно, происходит наиболее кристаллографическое скольжение, и так как оно должно создаваться напряжениями среза (в то время как трещины образуются растягивающими напряжениями), то очевидно, что процесс образования уступов должен быть отнесен к скольжению, происходящему в течение полирующего действия 1. В более раннем исследовании процесса скольжения было высказано, что оно образовано очень высокими напряжениями, имеющими место между абразивными частицами и поверхностью алмаза.